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Suchergebnisse 61 - 90 von 101

Neutronenmasse aus Stoßversuchen

Versuche
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Ermittlung der Kernradien durch Streuung

Versuche
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Neutronenmasse über Kernphotoeffekt

Versuche
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Absorption von ß-Strahlung in Luft

Versuche

  • Bestätigung des Abstandsgesetzes für (harte) \(\beta\)-Strahlung

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Versuche

  • Bestätigung des Abstandsgesetzes für (harte) \(\beta\)-Strahlung

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Absorption von ß-Strahlung in Aluminium

Versuche
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Absorption von Gammastrahlung in Materie

Versuche
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Untersuchung der Strontium-90-Strahlung

Versuche
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Bestimmung der Halbwertszeit von \({}^{220}{\rm{Rn}}\)

Versuche

  • Bestimmung der Halbwertszeit von \({}^{220}{\rm{Rn}}\)

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Versuche

  • Bestimmung der Halbwertszeit von \({}^{220}{\rm{Rn}}\)

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Energiezufuhr bei Halbleitern

Versuche

  • Nachweis, dass durch Energiezufuhr bei Halbleitern Ladungen aus ihren Bindungen gelöst werden können.

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  • Nachweis, dass durch Energiezufuhr bei Halbleitern Ladungen aus ihren Bindungen gelöst werden können.

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Einweggleichrichtung

Versuche

Mit diesem Versuch soll gezeigt werden, dass mit einer Diode eine Wechselspannung in eine pulsierende Gleichspannung gewandelt werden kann.

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Mit diesem Versuch soll gezeigt werden, dass mit einer Diode eine Wechselspannung in eine pulsierende Gleichspannung gewandelt werden kann.

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Doppelweggleichrichtung

Versuche

Mit diesem Versuch soll gezeigt werden, dass mit einer Kombination von vier Dioden (Brückengleichrichter) eine Wechselspannung in eine pulsierende Gleichspannung gewandelt werden kann.

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Mit diesem Versuch soll gezeigt werden, dass mit einer Kombination von vier Dioden (Brückengleichrichter) eine Wechselspannung in eine pulsierende Gleichspannung gewandelt werden kann.

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Diodeneigenschaften des Transistors

Versuche

Mit diesem Versuch wird gezeigt, dass ein Transistor "vordergründig" als Kombination zweier einander entgegengeschalteter Dioden aufgefasst werden.

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Mit diesem Versuch wird gezeigt, dass ein Transistor "vordergründig" als Kombination zweier einander entgegengeschalteter Dioden aufgefasst werden.

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Schwächung von Röntgenstrahlung

Versuche
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RÖNTGEN-Emissionsspektrum

Versuche

  • Zentrale Eigenschaften des Röntgenspektrums ermitteln
  • Einfluss der Betriebsspannung, des Drehkristalls und des Anodenmaterials auf das Spektrum analysieren

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  • Zentrale Eigenschaften des Röntgenspektrums ermitteln
  • Einfluss der Betriebsspannung, des Drehkristalls und des Anodenmaterials auf das Spektrum analysieren

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Untersuchung der Americium-Strahlung

Versuche
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Aufnahme der Diodenkennlinie

Versuche

Mit diesem Versuch werden die Kennlinien von Dioden aufgenommen, also der Zusammenhang zwischen der an einer Dioden anliegenden Spannung und der Stärke des daraus resultierenden Stroms durch die Diode untersucht.

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Mit diesem Versuch werden die Kennlinien von Dioden aufgenommen, also der Zusammenhang zwischen der an einer Dioden anliegenden Spannung und der Stärke des daraus resultierenden Stroms durch die Diode untersucht.

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Atomaufbau (Simulation von PhET)

Versuche
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Resonanzabsorption und Resonanzfluoreszenz bei Molekülen (Simulation von PhET)

Versuche

  • Darstellung der quantenhaften Absorption von Photonen durch Moleküle
  • Darstellung der unterschiedlichen Anregungsformen der Moleküle bis hin zur Ionisation
  • Darstellung der Übereinstimmung der Energie der absorbierten und der emittierten Photonen

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  • Darstellung der quantenhaften Absorption von Photonen durch Moleküle
  • Darstellung der unterschiedlichen Anregungsformen der Moleküle bis hin zur Ionisation
  • Darstellung der Übereinstimmung der Energie der absorbierten und der emittierten Photonen

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Isotope und Atommasse (Simulation von PhET)

Versuche
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RUTHERFORD-Streuung (Simulation von PhET)

Versuche
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Ölfleckversuch (Schülerexperiment)

Versuche
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Radioaktiver Zerfall mit Würfeln

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Ventilwirkung einer Diode

Versuche

Mit dem Versuch soll die Ventilwirkung eines p-n-Übergangs, also einer Halbleiterdiode gezeigt werden.

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Mit dem Versuch soll die Ventilwirkung eines p-n-Übergangs, also einer Halbleiterdiode gezeigt werden.

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Eingangskennlinie des Transistors

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Mit diesem Versuch soll der Zusammenhang zwischen der Basis-Emitter-Spannung und dem Basisstrom bei einem npn-Transistor untersucht werden. Die graphische Darstellung dieses Zusammenhangs bezeichnet man als Eingangskennlinie.

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Mit diesem Versuch soll der Zusammenhang zwischen der Basis-Emitter-Spannung und dem Basisstrom bei einem npn-Transistor untersucht werden. Die graphische Darstellung dieses Zusammenhangs bezeichnet man als Eingangskennlinie.

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