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Versuche

Energiezufuhr bei Halbleitern

Ziel des Versuchs

  • Nachweis, dass durch Energiezufuhr bei Halbleitern Ladungen aus ihren Bindungen gelöst werden können.
Joachim Herz Stiftung
Abb. 1 Ansicht des Versuchsaufbaus
Joachim Herz Stiftung
Abb. 2 Schaltplan des Versuchs

 

Aufbau und Durchführung

An einen Heißleiter-Widerstand (NTC) bzw. an einen Fotowiderstand (LDR) wird eine feste Spannung gelegt. Der Strom durch das jeweilige Element kann gemessen werden.

Man erwärmt den Heißleiter mit einem Fön bzw. beleuchtet den Fotowiderstand mit einer Lampe und misst die Stärke des Stroms durch das Halbleiterelement.

 

 

Beobachtung

In beiden Fällen nimmt die Stromstärke bei Erwärmung bzw. Beleuchtung zu, d.h. der Widerstand des Halbleiterelements sinkt.

 

 

Erklärung

Durch Energiezufuhr werden Ladungsträger in dem Halbleiterelement "freigeschüttelt", sodass mehr bewegliche Ladungsträger vorliegen. Die Leitfähigkeit des Halbleiterelementes nimmt zu.